| 标题 |
 Evaluation of degradation behavior in quantum dot light-emitting diode with different hole transport materials via transient electroluminescence 利用瞬态电致发光评价不同空穴输运材料量子点发光二极管的降解行为
相关领域
亮度
光电子学
材料科学
二极管
电致发光
降级（电信）
电子迁移率
发光二极管
有机发光二极管
量子点
瞬态（计算机编程）
量子效率
图层（电子）
光学
物理
复合材料
电信
计算机科学
操作系统
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Applied Physics Letters 作者：Takahiro Doe; Keisuke Kitano; Satoru Yamamoto; Masaki Yamamoto; Kazuki Goto; et al 出版日期：2021-05-17 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
FIN
LaTeXer
Emma
轻舟
Magali
Sandy
GingerF
yydragen
chenjzhuc
Y先生
贰鸟
可爱打工霖
wu8577
热心市民小红花
柯一一
曾天祥
猪猪hero
诸葛带你做分析_yorfir
Zkxxxx
隐形曼青
皖公网安备34019202002308
