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![]() 升华锗源杂质蒸发在HW CVD工艺中掺杂的Ge/Si(001)异质外延层
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期刊:Semiconductors 作者:A. M. Titova; В. Г. Шенгуров; С. А. Денисов; V. Yu. Chalkov; А. В. Зайцев; et al 出版日期:2024-04-01 |
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zywzyw
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