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 Analysis of Single-event Upset for SRAM Devices by Using the MC-50 Cyclotron 相关领域
单事件翻转
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期刊：Journal of the Korean Physical Society 作者：Jong Kang Park; Soon-Gyu Kwon; Seung Wook Lee; Jong Tae Kim; Jong‐Seo Chai; et al 出版日期：2011-05-13 |
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