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 书籍（章节） Review of SiC MOSFET Failure Analysis Under Extreme Conditions: High Temperature, High Frequency and Irradiation SiC MOSFET在高温、高频和辐照等极端条件下的失效分析
相关领域
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期刊：Lecture notes in electrical engineering 作者：Ziyang Zhang; Lin Liang; Hai Shang 出版日期：2022-01-01 |
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