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 Investigation on Electrical–Thermal-Stress Failure of GaN HEMTs Under High-Power Microwave-Induced Pulse Injection 相关领域
材料科学
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Yue Zhang; Jingwen Huang; L. P. Zhou; Xinyu Ma; Mingxuan Li 出版日期：2025-01-01 |
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