High-Resolution Guided Up-Sampling Edge-Enhancing Semantic Segmentation Network for Semiconductor Wafer Surface Defect Detection

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标题	High-Resolution Guided Up-Sampling Edge-Enhancing Semantic Segmentation Network for Semiconductor Wafer Surface Defect Detection
网址	https://doi.org/10.1109/JSEN.2025.3545090
DOI	10.1109/JSEN.2025.3545090 doi
其它	期刊：IEEE Sensors Journal 作者：Jiangtao Cheng; Shuang Mei; Xingyue Liu; He Xin; Guojun Wen 出版日期：2025-03-04
求助人	turbo 在 2026-07-09 21:03:46 发布自江苏，悬赏 10 积分
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