| 标题 |
Quantification of Interfacial Voids Using Positron Annihilation Spectroscopy for Mechanism Study on SiCN Bonding and SiN Bonding |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:ECS Journal of Solid State Science and Technology 作者:Y. Yang; X. F. Brun; M. H. Weber; M. Flores 出版日期:2024 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)