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Introductory guide to backgrounds in XPS spectra and their impact on determining peak intensities |
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology A: Vacuum, Surfaces, and Films 作者:Mark H. Engelhard; Donald R. Baer; Alberto Herrera-Gomez; Peter M. A. Sherwood 出版日期:2020 |
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(2025-6-4)