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Ultra High Density 1D1R FinFET Dielectric RRAM in 5nm FinFET CMOS Logic Process |
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期刊:2025 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) 作者:Wei-Hwa Lin; Pin-Hsuan Shih; Tzu-Ying Sung; Yue-Der Chih; Yih Wang; et al 出版日期:2026-01-31 |
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