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 A review of thermoreflectance techniques for characterizing wide bandgap semiconductors’ thermal properties and devices’ temperatures 表征宽带隙半导体热性能和器件温度的热反射技术综述
相关领域
材料科学
光电子学
半导体
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热的
半导体器件
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期刊：Journal of Applied Physics 作者：Chao Yuan; Xun Shi; Samuel Graham 出版日期：2022-12-14 |
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