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 Surface Degradation of Mg2X-Based Composites at Room Temperature: Assessing Grain Boundary and Bulk Diffusion Using Atomic Force Microscopy and Scanning Electron Microscopy 室温下Mg2X基复合材料的表面退化：用原子力显微镜和扫描电子显微镜评估晶界和体扩散
相关领域
材料科学
扫描电子显微镜
复合材料
晶界
扩散
原子力显微镜
晶界扩散系数
光导原子力显微镜
降级（电信）
显微镜
导电原子力显微镜
表面扩散
扫描电容显微镜
微观结构
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计算机科学
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期刊：ACS Applied Materials & Interfaces 作者：Sanyukta Ghosh; Mohamed Abdelbaky; W. Mertin; Eckhard Müller; Johannes de Boor 出版日期：2024-08-28 |
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JPL3729
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