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 Surface Degradation of Mg2X-Based Composites at Room Temperature: Assessing Grain Boundary and Bulk Diffusion Using Atomic Force Microscopy and Scanning Electron Microscopy 室温下Mg2X基复合材料的表面退化：用原子力显微镜和扫描电子显微镜评估晶界和体扩散
相关领域
材料科学
扫描电子显微镜
复合材料
晶界
扩散
原子力显微镜
晶界扩散系数
光导原子力显微镜
降级（电信）
显微镜
导电原子力显微镜
表面扩散
扫描电容显微镜
微观结构
纳米技术
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计算机科学
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期刊：ACS Applied Materials & Interfaces 作者：Sanyukta Ghosh; Mohamed Abdelbaky; W. Mertin; Eckhard Müller; Johannes de Boor 出版日期：2024-08-28 |
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