| 标题 |
Quantitative analysis of surface contaminants on silicon wafers by means of TOF-SIMS 硅片表面污染物的TOF-SIMS定量分析
相关领域
薄脆饼
污染
硅
二次离子质谱法
材料科学
分析化学(期刊)
曲面(拓扑)
环境化学
化学
环境科学
冶金
色谱法
质谱法
纳米技术
数学
生物
生态学
几何学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Applied Surface Science 作者:P. Rostam-Khani; J. Philipsen; E. Jansen; H. Eberhard; Peter J. M. G. Vullings 出版日期:2006-07-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|