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![]() 使用浅卷积自动编码器通过时间去噪和深度特征提取增强热成像中的缺陷检测
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自编码
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期刊:Insight - Non-Destructive Testing and Condition Monitoring 作者:Y. Naga Prasanthi; V. S. Ghali; G. T. Vesala; Fei Wang; B. Suresh 出版日期:2025-03-01 |
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