Lead frame surface defect detection based on geometric constraints and adaptive dual-branch normality recall for semiconductor manufacturing

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标题	Lead frame surface defect detection based on geometric constraints and adaptive dual-branch normality recall for semiconductor manufacturing
网址	http://dx.doi.org/10.1016/j.jmsy.2025.06.016
DOI	10.1016/j.jmsy.2025.06.016 doi
其它	期刊：Journal of Manufacturing Systems 作者：Tingrui Sun; Zhiwei Li; Xinjie Xiao; Xiangyang Hu; Zhihong Sun 出版日期：2025-10-01
求助人	rui 在 2026-10-14 16:37:51 发布自辽宁，悬赏 10 积分
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