二次离子质谱法
质谱法
分析化学（期刊）
静态二次离子质谱
离子
超高真空
高质量
样品制备
化学
加速器质谱
材料科学
纳米技术
色谱法
物理
天体物理学
有机化学
作者
Wanfeng Zhang,Xiaoping Xia,Yanqiang Zhang,Touping Peng,Qing Yang
摘要
Secondary ion mass spectrometry (SIMS) has been applied to analyze a wide range of materials for earth science research due to its high sensitivity, high precision and capacity for in situ micro-analysis.
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