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作者
Jae Yong Seo,Jung Eun Seok,Hyun Joo Kim,Hyun Jung Kim,Hong Sik Park,Jae Eun Jeon,Won Shik Lee
标识
DOI:10.1109/icmel.2008.4559337
摘要
An exact lifetime extrapolation models of ZrO 2 -Al2O3-ZrO 2 (ZAZ) stack capacitor with metal-insulator-metal (MIM) structure was studied in this paper. From the extensive long-term test result (~ 7.5 months) it was found that the power-law model is suitable as a exact lifetime extrapolation model for ZAZ dielectric reliability.
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