金属间化合物
化学
钯
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物理
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工程类
作者
Hsien‐Chie Cheng,Ching-Feng Yu
摘要
Cu 3 Pd offers superior stiffness, thermal stability, and toughness, making it ideal for microelectronic packaging. In contrast, Cu 4 Pd provides greater ductility and thermal compliance for applications with large thermal fluctuations.
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