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SOI bonded wafer process for high precision MEMS inertial sensors

绝缘体上的硅 薄脆饼 微电子机械系统 晶圆回磨 材料科学 模具准备 晶片测试 光电子学 晶片键合 基质(水族馆) 图层(电子) 电子工程 晶片切割 纳米技术 工程类 海洋学 地质学
作者
William D. Sawyer,Mert S. Prince,Giles J Brown
出处
期刊:Journal of Micromechanics and Microengineering [IOP Publishing]
卷期号:15 (8): 1588-1593 被引量:22
标识
DOI:10.1088/0960-1317/15/8/030
摘要

A process for fabricating MEMS devices using a silicon on insulator (SOI) wafer bonded to a substrate glass or silicon wafer is presented. In this process, the device layer of the SOI wafer is bonded to the substrate wafer, and the handle and SiO2 layers of the SOI wafer are subsequently removed. This method of manufacturing MEMS devices using SOI wafers offers important advantages over alternative SOI wafer processes, and is being implemented to manufacture high accuracy MEMS inertial devices.
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