材料科学
制作
灵敏度(控制系统)
探测器
基质(水族馆)
极限(数学)
光电子学
半导体
钙钛矿(结构)
结晶度
沉积(地质)
涂层
薄膜
检出限
光学
分辨率(逻辑)
工作(物理)
光子学
X射线探测器
图像分辨率
能量(信号处理)
纳米技术
质量(理念)
二极管
半导体探测器
防反射涂料
作者
Haomiao Li,Bo Jiao,Zhihang Zhang,Mengxin Yan,Zubair Maroof,Dong Wang,Guijiang Zhou,Xun Hou,Zhaoxin Wu
标识
DOI:10.1016/j.surfin.2026.108436
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