异质结
光电探测器
材料科学
响应度
光电子学
暗电流
锗
红外线的
比探测率
光学
硅
物理
作者
Wenjie Chen,Renrong Liang,Shuqin Zhang,Yu Liu,Weijun Cheng,Chuanchuan Sun,Jun Xu
出处
期刊:Nano Research
[Springer Science+Business Media]
日期:2019-12-09
卷期号:13 (1): 127-132
被引量:70
标识
DOI:10.1007/s12274-019-2583-5
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