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作者
Jonathan Ogle,Daniel Powell,Eric Amerling,Detlef‐M. Smilgies,Luisa Whittaker‐Brooks
出处
期刊:CrystEngComm
[Royal Society of Chemistry]
日期:2019-01-01
卷期号:21 (38): 5707-5720
被引量:26
摘要
Using the mosaicity factor and GIWAXS diffraction patterns to quantify crystallite heterogeneities and orientation in thin film materials.
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