Roles of Chloride Ions in the Formation of Corrosion Protective Films on Copper

氯化物 腐蚀 化学 聚合 覆盖层 离子 二次离子质谱法 无机化学 核化学 聚合物 有机化学 物理化学
作者
Dževad K. Kozlica,Jernej Ekar,Janez Kovač,Ingrid Milošev
出处
期刊:Journal of The Electrochemical Society [The Electrochemical Society]
卷期号:168 (3): 031504-031504 被引量:18
标识
DOI:10.1149/1945-7111/abe34a
摘要

Unambiguous evidence is presented that the chloride ions play a dual role in the formation of a micrometre thick film of polymerized [Cu-Cl-MBI] n . This occurs when the copper is exposed to 3 wt.% NaCl solution containing 1 mM of mixture of inhibitors 2-mercaptobenzimidazole, MBI, and octylphosphonic acid, OPA, in the molar ratio MBI:OPA of 9:1. The chloride ions act simultaneously as a promoter of polymerized [Cu–MBI] n /[Cu–Cl–MBI] n film formation and a reactant that is incorporated in the film, as confirmed by time-of-flight secondary ion mass spectrometry. Also, formation of a Cu 2 O film under the Cu-inhibitor film was proven by focused ion beam microscopy, with chemical analysis being employed at the cross-section of the thick polymerized film. The Cu(I) oxide underlayer, together with the porous straw-like morphology of the [Cu–Cl–MBI] n overlayer, is believed to be responsible for the excellent corrosion protection of copper, even in a chloride environment without the reservoir of MBI+OPA. We also report a new insight into the mechanism of degradation of the Cu–MBI/Cu–Cl–MBI film that results in the formation of (MBI) 2 dimers. The inhibitor layer, formed in NaCl solution and containing the synergistic combination of MBI and OPA, showed outstanding resistance to degradation.

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