材料科学
图层(电子)
薄膜
机制(生物学)
铁电性
领域(数学)
原子层沉积
热传导
凝聚态物理
纳米技术
复合材料
光电子学
电介质
数学
认识论
物理
哲学
纯数学
作者
Min Hyuk Park,Hong Jip Kim,Yoon Jun Kim,Taehwan Moon,Kyung Do Kim,Y. H. Lee,Sangjin Hyun,Cheol Seong Hwang
摘要
The effects of the internal field and conduction mechanism of carriers in ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 thin films are systematically investigated by controlling the in-depth profile of oxygen vacancy concentrations.
科研通智能强力驱动
Strongly Powered by AbleSci AI