A High-Speed, Low-Power, High-Reliability and Fully Single Event Double Node Upset Tolerant Design for Magnetic Random Access Memory

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作者
Jiaxin Yang,Ziyang Guo,Shixuan Wang,Jilong Liu,Yue Zhang,Weisheng Zhao,Lang Zeng,Deming Zhang
出处
期刊:IEEE Transactions on Circuits and Systems I-regular Papers [Institute of Electrical and Electronics Engineers]
卷期号:72 (1): 192-202 被引量:4
标识
DOI:10.1109/tcsi.2024.3438282
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