透射电子显微镜
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出处
期刊:Journal of Electron Microscopy
[Oxford University Press]
日期:2010-10-05
卷期号:60 (1): 35-37
被引量:3
标识
DOI:10.1093/jmicro/dfq070
摘要
Porous Au specimens suitable for transmission electron microscopic investigations were prepared by the Ar ion-milling equipped with a cryo-system. The cryo technique enabled the preparation of an artifact-free specimen, avoiding the deposition of Au particles induced by ion-milling. This result demonstrates that cooling is necessary for defect-free preparation of the specimens.
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