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作者
Thomas Mikolajick,C. Dehm,Walter Hartner,I. Kasko,Markus Kastner,N. Nagel,Manfred Moert,C. Mazuré
出处
期刊:Microelectronics Reliability [Elsevier BV]
卷期号:41 (7): 947-950 被引量:164
标识
DOI:10.1016/s0026-2714(01)00049-x
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