Field-effect transistors of high-mobility few-layer SnSe2

图层(电子) 材料科学 场效应晶体管 晶体管 电子迁移率 光电子学 领域(数学) 感应高电子迁移率晶体管 物理 纳米技术 电压 数学 量子力学 纯数学
作者
Chenglei Guo,Zhen Tian,Yan-jun Xiao,Qixi Mi,Jiamin Xue
出处
期刊:Applied Physics Letters [American Institute of Physics]
卷期号:109 (20) 被引量:102
标识
DOI:10.1063/1.4967744
摘要

We report the transport properties of mechanically exfoliated few-layer SnSe2 flakes, whose mobility is found to be ∼85 cm2 V−1 s−1 at 300 K, higher than those of the majority of few-layer transitional metal dichalcogenides. The mobility increases strongly with decreased temperature, indicating a phonon limited transport. The conductivity of the semiconducting SnSe2 shows a metallic behavior, which is explained by two competing factors involving the different temperature dependence of mobility and carrier density. The Fermi level is found to be 87 meV below the conduction band minima (CBM) at 300 K and 12 meV below the CBM at 78 K, resulting from a heavy n-type doping. Previous studies have found SnSe2 field-effect transistors to be very difficult to turn off. We find the limiting factor to be the flake thickness compared with the maximum depletion width. With fully depleted devices, we are able to achieve a current on-off ratio of ∼105. These results demonstrate the great potential of SnSe2 as a two dimensional (2D) semiconducting material and are helpful for our understanding of other heavily doped 2D materials.
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