Semiconductor Memories Technology, Testing And Reliability

可靠性(半导体) 可靠性工程 计算机科学 半导体器件 光电子学 半导体
作者
Ashok K. Sharma
摘要

Semiconductor Memories provides in-depth coverage in the areas of design for testing, fault tolerance, failure modes and mechanisms, and screening and qualification methods including.* Memory cell structures and fabrication technologies.* Application-specific memories and architectures.* Memory design, fault modeling and test algorithms, limitations, and trade-offs.* Space environment, radiation hardening process and design techniques, and radiation testing.* Memory stacks and multichip modules for gigabyte storage.

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