材料科学
CMOS芯片
栅极电介质
光电子学
电介质
高-κ电介质
栅氧化层
金属浇口
泄漏(经济)
半导体
随时间变化的栅氧化层击穿
工程物理
电气工程
电子工程
重点(电信)
电压
晶体管
工程类
经济
宏观经济学
作者
Michel Houssa,L. Pantisano,L.-Å. Ragnarsson,R. Degraeve,T. Schram,G. Pourtois,Stefan De Gendt,G. Groeseneken,Marc Heyns
标识
DOI:10.1016/j.mser.2006.04.001
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