Thermomechanical model of an oxide-confined GaAs-based VCSEL emitter

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作者
Raffaele Coppeta,Robert Fabbro,Michael Pusterhofer,Thomas Haber,G. Fasching
出处
期刊:Microelectronics Reliability [Elsevier]
卷期号:140: 114828-114828 被引量:4
标识
DOI:10.1016/j.microrel.2022.114828
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