Low turn-on voltage AlGaN/GaN Schottky barrier diode with a low work function anode and high work function field plate

工作职能 光电子学 材料科学 二极管 肖特基势垒 肖特基二极管 宽禁带半导体 阳极 工作(物理) 肖特基效应 金属半导体结 纳米技术 电极 化学 物理 图层(电子) 物理化学 热力学
作者
Yuhao Shi,Guoxin Li,Yuhao He,Zhonghong Guo,Jianbo Shang,Xiaohang Li,Fangliang Gao,Shuti Li
出处
期刊:Applied Physics Letters [American Institute of Physics]
卷期号:125 (12) 被引量:2
标识
DOI:10.1063/5.0223396
摘要

AlGaN/GaN Schottky barrier diodes (SBDs) with a low work function W anode and a high work function Ni field plate on sapphire substrates are investigated in this Letter. The low work function metal W leads to the low turn-on voltage, while the high work function metal Ni maintains the leakage current and increases the breakdown voltage. An ultralow turn-on voltage of 0.23 V determined by the positive fixed charge at the AlGaN/Si3N4 interface is achieved in this W/Ni SBD. More importantly, benefitting from the dual-metal anode/field plate structure, the on-resistance decreases from 7.99 to 5.53 Ω mm, and the breakdown voltage increases from 493 to 1219 V. In addition, the turn-on voltage decreases less than 57%, and the on-resistance increases less than 186% at a high temperature up to 120 °C. The W/Ni SBD with a cathode–anode length of 18 μm and a field plate length of 4 μm shows a low turn-on voltage of 0.23 V, a low on-resistance of 5.53 Ω mm, a leakage current of 0.65 mA/mm, and a high breakdown voltage of 1.21 kV, indicating a great potential for power electronic applications.
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