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A 0.32-pJ/b 100-Gb/s PAM-4 TIA in 28-nm CMOS

CMOS芯片 光电子学 材料科学
作者
Chongyun Zhang,Li Wang,Fuzhan Chen,C. Patrick Yue
出处
期刊：IEEE solid-state circuits letters [Institute of Electrical and Electronics Engineers]
日期：2025-01-01 卷期号：: 1-1
标识
DOI：10.1109/lssc.2025.3603569
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