电子显微镜
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作者
Safiyye Kavak,Daen Jannis,Annick De Backer,Daniel Arenas Esteban,Arno Annys,Sergio Carrasco,Javier Ferrando,Raul Mulero,Patricia Horcajada,Johan Verbeeck,Sandra Van Aert,Sara Bals
摘要
Electron dose thresholds were analyzed for pristine and metalated PCN-222 MOFs. RiCOM images from low-dose 4D-STEM experiment data sets, reveal structural details, allowing investigation of local features while minimizing beam-induced damage.
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