干涉测量
马赫-曾德尔干涉仪
光学相干层析成像
光学
炸薯条
物理
绝缘体上的硅
天文干涉仪
光学层析成像
相(物质)
硅
计算机科学
光电子学
电信
量子力学
作者
Y.H. Chen,Chen Wu,Ming‐Hsuan Chen,Shih‐Hsiang Hsu
标识
DOI:10.1364/cleo_at.2023.am3q.3
摘要
A 8890-µm delayed Mach-Zehnder-based auxiliary interferometer on the silicon-on-insulator platform demonstrates 22-µm axial resolution through the zero-crossing resampling. We believe that this is the first time to illustrate the SS-OCT through a chip-based auxiliary interferometer.
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