Étude comparative des paramètres fractals des surfaces par réflectométrie des rayons X et microscopie à force atomique

La reflectometrie des rayons X est de nos jours couramment utilisee pour caracteriser la structure des systemes de tres faibles dimensions. L'oxydation des materiaux est un probleme etudie depuis de longues annees car ses consequences economiques sont importantes. Dans ce but nous avons developpe l'application de la reflectometrie des rayons X a l'etude de l'oxydation a haute temperature. L'evaluation des possibilites ainsi que les limites de l'application de cette technique ont ete etudiees. Nous montrons ainsi que la reflectometrie des rayons X est adaptee a l'etude des surfaces et des couches minces et permet d'etudier, entre autre, l'oxydation des metaux a haute temperature. L'etude par la reflectometrie diffuse de la rugosite des surfaces oxydees et leur description en utilisant les methodes connues de la theorie fractale nous a permis d'etudier la morphologie des surfaces oxydees. La valeur de ces parametres fractals est etudiee en effectuant des experiences comparatives avec la microscopie a force atomique. Nous estimons que cette technique est un outil prometteur pour l'etude de l'oxydation dans sa phase initiale.