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作者
Fuzhan Chen,Chongyun Zhang,Li Wang,Quan Pan,C. Patrick Yue
出处
期刊:IEEE Journal of Solid-state Circuits
[Institute of Electrical and Electronics Engineers]
日期:2025-04-10
卷期号:60 (11): 4227-4241
标识
DOI:10.1109/jssc.2025.3552590
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