Structural and Hardness Characteristics of Silicon Nitride Thin Films Deposited on Metallic Substrates by DC Reactive Sputtering Technique

材料科学 氮化硅 溅射 氮化物 基质(水族馆) 纳米晶硅 薄膜 复合材料 纳米技术 光电子学 晶体硅 图层(电子) 地质学 海洋学 非晶硅
作者
Diyar Ali Taher,Mohammed A. Hameed
出处
期刊:Silicon [Springer Nature]
卷期号:15 (18): 7855-7864 被引量:4
标识
DOI:10.1007/s12633-023-02604-2
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