Investigation of NiSi and Pd3Si Thin Films by AES and XPS

X射线光电子能谱 材料科学 薄膜 化学工程
作者
V. Atzrodt,Th. Wirth,H. Lange
出处
期刊:De Gruyter eBooks [De Gruyter]
卷期号:: 531-538
标识
DOI:10.1515/9783112501542-023
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