作者
Viacheslav Tarelnyk,O. P. Gaponova,Ievgen Konoplianchenko,N. V. Tarelnyk,Maryna Mikulina,V. А. Gerasimenko,O. O. Vasylenko,V. М. Zubko,V. I. Melnyk
摘要
В статті представлено результати локальної рентґеноспектральної аналі-зи покриттів, що одержані методою електроіскрового леґування (ЕІЛ) при енергії розряду Wр = 0,13, 0,52 і 0,9 Дж анодами з ніклю і неіржавійної криці 12Х18Н10Т на поверхні катоди із криці 12Х18Н10Т. При ЕІЛ електродою-інструментом із криці 12Х18Н10Т зі збільшенням Wр як в хара-ктерних точках, так і зі всієї дослідженої поверхні покриття, кількісний елементний склад суттєво не змінюється. Аналіза розподілу елементів по глибині сформованого шару показала, що при використанні в якості еле-ктроди-інструменту криці 12Х18Н10Т, зі збільшенням Wр в поверхнево-му шарі відбувається незначне зменшення вмісту Хрому і збільшення Ні-клю та Титану. При заміні криці 12Х18Н10Т на нікель зі збільшенням Wр кількість Ніклю на поверхні покриття зменшується з 95,38 до 89,04%. По мірі поглиблення з поверхні покриття кількість Ніклю пос-тупово зменшується, відповідно при Wр = 0,13, 0,52 і 0,9 Дж з 96,29, 90,29 і 89,04% на поверхні до 9,0, 10,30 і 9,9% на глибині: 120, 165 і 240 мкм. При цьому кількість Хрому, Титану та Феруму поступово збі-льшується.