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作者
Aditya Shukla,Jonathan P. Wright,Axel Henningsson,Hergen Stieglitz,Eric Colegrove,L. Besley,Christian Baur,Salvatore De Angelis,Michael Stückelberger,Henning Friis Poulsen,Jens Wenzel Andreasen
摘要
Scanning 3DXRD was used to visualize strain localization at grain boundaries with a high spatial resolution of 100 nm.
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