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作者
S. K. Lyubutin,V. E. Patrakov,S. N. Rukin,B.G. Slovikovsky,S. N. Tsyranov
出处
期刊:Semiconductors
[Pleiades Publishing]
日期:2024-05-01
卷期号:58 (5): 436-444
被引量:1
标识
DOI:10.1134/s1063782624050117
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