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Ultra-low loss SiN edge coupler interfacing with a single-mode fiber

材料科学 包层(金属加工) 光学 耦合损耗 包层模式 插入损耗 氮化硅 折射率 绝缘体上的硅 光电子学 单模光纤 光纤 纤维 保偏光纤 光纤传感器 复合材料 物理
作者
Yuxin Liang,Zhihui Li,Shijia Fan,Jing Feng,Dapeng Liu,Haijun Liao,Zhonghua Yang,Junbo Feng,Naidi Cui
出处
期刊:Optics Letters [Optica Publishing Group]
卷期号:47 (18): 4786-4786 被引量:20
标识
DOI:10.1364/ol.469708
摘要

In this work, an ultra-low loss silicon nitride (SiN) edge coupler was designed and fabricated to interface with a single-mode fiber (SMF). Unlike other works that focus on the core structure, this work focuses on the cladding structure. First, it is demonstrated that the cladding structure ultimately determines the size and shape of the mode when the taper tip width is small enough. Then, the thickness of the up-cladding is optimized to provide enough space for mode expansion in the vertical direction. Air trenches are added to confine the mode laterally. In addition, the refractive index (RI) of the up-cladding layer is slightly increased to prevent light from leaking into the Si substrate. This edge coupler is then fabricated on the SiN platform at Chongqing United Microelectronics Center. For the TE mode at 1630 nm, a coupling loss of 0.67 dB/facet was obtained. At 1550 nm, 0.85 dB/facet and 1.09 dB/facet were measured for the TE and TM modes, respectively, which means that the polarization-dependent loss is 0.24 dB. Although the design method and the structure are based on a pure SiN platform, they are applicable to a silicon-on-insulator platform as well.
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