标题 |
![]() 用于低功耗数字集成电路的高k介质调制纳米级FD SOI MOSFET基于界面陷阱电荷的可靠性评估:建模与仿真
相关领域
绝缘体上的硅
MOSFET
材料科学
光电子学
高-κ电介质
电介质
晶体管
电子工程
电气工程
电压
硅
工程类
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Superlattices and Microstructures 作者:Nilesh Anand Srivastava; Anjali Priya; R. A. Mishra 出版日期:2021-03-30 |
求助人 |
海鸥飞处
在
2025-08-05 04:40:02 发布,悬赏 10 积分
|
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|