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  Analysis of Hot Carrier Degradation in 0.25-μm Schottky Gate AlGaN/GaN HEMTs 0.25 μ m肖特基栅AlGaN/GaN HEMTs中热载流子退化的分析
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期刊：Journal of Electromagnetic Engineering and Science 作者：Seong‐In Cho; Wonho Jang; Ho‐Young Cha; Hyungtak Kim 出版日期：2022-05-31 |
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