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Improved breakdown characteristic of AlGaN/GaN HEMTs with a width gradient recessed dual-gate structure 具有宽度梯度凹入双栅结构的AlGaN/GaN HEMT改进的击穿特性
相关领域
高电子迁移率晶体管
光电子学
材料科学
击穿电压
制作
泄漏(经济)
晶体管
电压
电气工程
医学
工程类
宏观经济学
病理
经济
替代医学
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期刊:Semiconductor Science and Technology 作者:Sheng Zhang; Wei Ke; Yichuan Zhang; Xiaojuan Chen; Xinyu Liu; et al 出版日期:2022-10-14 |
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