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Half‐selection disturbance free 8T low leakage SRAM cell 半选择无干扰8T低泄漏SRAM单元
相关领域
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泄漏(经济)
计算机科学
晶体管
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| 其它 |
期刊:International Journal of Circuit Theory and Applications 作者:Rohit Lorenzo; Roy Paily 出版日期:2022-02-02 |
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