| 标题 |
Thick 4H-SiC based Schottky-Type Electron Detector for Fast Microscopy and Extended Sensitivity to sub-keV |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Renjie Xu; Jie Jin; Lin Zhang; Dong Zhou; Feng Zhou; et al 出版日期:2026-01-01 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)