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HTGB and DGS Reliability Assessment of e-mode GaN-HEMTs with Ferroelectric Gate Stack |
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10.1109/irps48204.2025.10983138
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期刊:2025 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) 作者:A.N. Tallarico; M. Millesimo; U. Ibrar; E. Sangiorgi; C. Fiegna; et al 出版日期:2025 |
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(2025-6-4)