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 An equivalent circuit model of NBTI effect for short-channel P-MOSFET 短沟道P-MOSFET NBTI效应的等效电路模型
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Junan Zhang; Min Jiang; Jinxin Hu; Yi Xiao; Tiehu Li; et al 出版日期：2022-11-14 |
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