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 Finite Element-Based Monitoring of Solder Degradation in Discrete SiC MOSFETs 基于有限元的分立SiC MOSFET焊料退化监测
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期刊： 作者：Borja Kilian; Jonas Gleichauf; Youssef Maniar; Olaf Wittler; Martin Schneider‐Ramelow 出版日期：2023-04-17 |
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